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ZEISS METROTOM:X 射線掃描系統

基于蔡司METROTOM 的工業(yè)計算機斷層掃描(CT) 利用蔡司的工業(yè)計算機斷層掃描系統,僅需一次 X 射線掃描,即可順利完成工件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程和完善的校準程序可確保系統的追蹤性。配備線性導軌及轉臺,滿足客戶對精確性的高要求。


測量與檢驗整體部件


蔡司METROTOM是一種工業(yè)計算機斷層掃描系統,用于測量和檢查由塑料或輕金屬制成的完整部件。而在利用傳統測量機測量時,此類隱藏性的結構信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。


輕金屬部件的測量


輕松且精準地進行多樣化特征檢測

利用蔡司METROTOM 計算機斷層掃描系統可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結果非常精確,且具可追溯性。和接觸式測量方法不同,蔡司METROTOM 獲取海量測量點時,時間顯著縮短。


連接器的測量。

   



全面的3D CT數據分析

GOM Volume Inspect(體積檢測)分析軟件易于使用,甚至適合初學者,它允許以3D形式進行完整的CT數據分析。軟件可以精準地分析幾何形狀、縮孔或內部結構和組件。即使是細微的缺陷也可以通過單個截面圖像看到,并且可以根據各種標準自動進行評估。您還可以將幾個組件的體積數據加載到項目中,執(zhí)行趨勢分析,并將分析結果與CAD數據進行比較。這樣,就可以準確地確定和記錄組件的質量,而上述這些往往都只需一個軟件即可完成。





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