消費(fèi)電子正廣泛的深入到人們生活的各個(gè)方面，其中智能化、個(gè)性化和環(huán)保意識(shí)是當(dāng)前消費(fèi)電子產(chǎn)品發(fā)展的主要趨勢(shì)，CT檢測(cè)在消費(fèi)電子領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景，一般用于產(chǎn)品的質(zhì)量控制，性能測(cè)試和制造工藝優(yōu)化等方面。

如何在不破壞產(chǎn)品外殼的前提下，利用X射線的穿透性對(duì)產(chǎn)品內(nèi)部進(jìn)行成像和檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)注塑產(chǎn)品的缺陷與損傷，確認(rèn)裝配體內(nèi)部的裝配狀態(tài)與間隙，關(guān)鍵尺寸裝配后是否發(fā)生變化。此外在快速更迭的消費(fèi)電子領(lǐng)域，效率至上，如何大大提升處于研發(fā)階段的產(chǎn)品優(yōu)化效率，新產(chǎn)品如何更快一步上市。

ZEISS METROTOM 1

可以在不破壞產(chǎn)品外殼的前提下，利用X射線的穿透性對(duì)產(chǎn)品內(nèi)部進(jìn)行成像和檢測(cè)，發(fā)現(xiàn)注塑產(chǎn)品的缺陷與損傷，確認(rèn)裝配體內(nèi)部的裝配狀態(tài)與間隙。此外在快速更迭的消費(fèi)電子領(lǐng)域，效率至上，CT掃描可提供全場(chǎng)數(shù)據(jù)，可大大提升處于研發(fā)階段的產(chǎn)品優(yōu)化效率。METROTOM 1的諸多優(yōu)點(diǎn)，如非破壞性檢測(cè)、高精度成像、單材料、裝配體適用以及高靈敏度等特點(diǎn)都完美契合了對(duì)于效率和精度都提出了極高要求的消費(fèi)電子領(lǐng)域，為電子產(chǎn)品的制造和質(zhì)量控制提供了重要的技術(shù)支持，從而保證產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

研發(fā)階段

1.快 速 掃 描 零 件 并 可 選 配ZEISSReverse Engineering軟件進(jìn)行逆向，生成被測(cè)零件的CAD模型。

2.獲取全場(chǎng)數(shù)據(jù)，高效展示與CAD模型偏差，并有針對(duì)性的修正模具，顯著縮短修模周期，加快產(chǎn)品上市速度。

量產(chǎn)階段

1.以較高精度檢測(cè)送測(cè)的樣品，高重現(xiàn)性確保掃描結(jié)果穩(wěn)定可靠。

2.獲取物體內(nèi)部及外部的全部特征，提供清晰的體積渲染識(shí)別不同的零部件，既可以整體評(píng)估也可以分開評(píng)估。

質(zhì)量實(shí)驗(yàn)室

1.一站式掃描解決方案，提供整個(gè)零件的全面細(xì)節(jié)。

2.測(cè)量隱藏或者內(nèi)部的特征尺寸以及內(nèi)部缺陷，并根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)缺陷進(jìn)行定性與定量分析。

3.最大程度地利用測(cè)量體積，批量化掃描多個(gè)零件，自動(dòng)拆分和檢測(cè)。

從內(nèi)部，看見質(zhì)量ZEISS METROTOM1產(chǎn)品特點(diǎn)

■入門級(jí)計(jì)量CT，帶可追溯的計(jì)量精度，符合VDI/VDE 2630表1.3

■掃描和檢測(cè)一站式解決方案

■批量掃描，自動(dòng)拆分和檢測(cè)

■關(guān)鍵掃描參數(shù)，軟件可自動(dòng)確認(rèn)

■宏程序，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè)及報(bào)告輸出

揭示內(nèi)部結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)全面分析支持完整的工作流程，從數(shù)據(jù)采集、CT數(shù)據(jù)導(dǎo)入和多邊化到廣泛的分析和報(bào)告。